本申请公开了一种用于测量的系统。测量系统配置为与处理设备集成，处理设备用于对结构进行光学测量，测量系统包括：支撑组件，用于将待测结构保持在测量平面中，使结构沿着至少一个第一横轴移动，并且用于通过z轴载物台改变测量平面的z轴位置；其中，z轴载物台包括两个相对对称的楔块，楔块支撑中间元件，中间元件具有与楔块接触的定向下表面；其中，支撑组件配置为通过改变楔块之间的距离来改变测量平面的z轴位置。