本申请公开了一种测量系统，配置为与处理设备集成，处理设备用于对结构进行光学测量，测量系统包括：支撑组件，用于将处于测量中的结构保持在测量平面中，支撑组件被配置为能操作以沿着第一横轴移动；限定照明和收集光通道的光学系统，其中，照明和收集光通道中的至少一个支持倾斜光学测量方案；光学系统包括能移动的光学头，能移动的光学头包括形成照明和收集光通道的一部分的物镜；支架组件，配置为使光学头沿着朝向第一横轴的第二横轴移动；和光学窗口，位于支撑组件和物镜之间；其中，光学窗口位于物镜和测量平面之间。