光学测量系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种光学测量系统,包括光源、第一光学单元、第二光学单元、色散元件、线阵探测器、面阵探测器、主控系统,光源发出的光束经过第一光学单元传输后,出射的光束被第二光学单元分光,从第二光学单元透过的光束被沿光轴方向聚焦于被测对象上,由被测对象反射或者散射回的光束经过第二光学单元部分反射后聚焦于色散元件,色散元件的前表面反射色散之前的部分光束到线阵探测器,透过色散元件前表面的部分光束聚焦在面阵探测器上,不同角度的光波对应不同的成像高度,主控系统根据预先存入的算法解码出被测对象的信息。本实用新型能够实现同时获取被测对象灰度图像以及被测对象高度信息,降低了系统的复杂度,提高了稳定度。

基本信息
专利标题 :
光学测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020980668.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-02
授权号 :
CN212721751U
授权日 :
2021-03-16
发明人 :
庆祖林
申请人 :
南京引创光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市浦口区江浦街道新浦路120号
代理机构 :
南京知识律师事务所
代理人 :
李湘群
优先权 :
CN202020980668.8
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/50  G01J3/12  G01B11/24  G01B11/06  G01N21/17  G01N21/25  G01N21/27  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2021-03-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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