同轴度光学测量系统、方法

授权

摘要

本发明涉及同轴度光学测量系统、方法，其在第一转子、第二转子对接前，以第一基准柱面和第一基准端面为基准测量第一近端处盘心孔的两处截面的跳动、以及第一定位端面和第一定位柱面的跳动；以第二基准柱面和第二基准端面为基准测量第二定位端面和第二定位柱面的跳动；在考虑各跳动的基础上，基于第一基准柱面和第一基准端面、第一定位端面和第一定位柱面、第二定位端面和第二定位柱面、第二基准柱面和第二基准端面之间的空间关系，建立第一基准柱面和第一基准端面相对于第二基准柱面和第二基准端面的空间关系，将该空间关系作为联合基准，并基于联合基准计算出盘心孔的一处截面的跳动，进而确定出同轴度。

基本信息

专利标题：

同轴度光学测量系统、方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112815883A

申请号：

CN201911128743.6

公开（公告）日：

2021-05-18

申请日：

2019-11-18

授权号：

CN112815883B

授权日：

2022-05-06

发明人：

赵岩周烁陈津宋健李琳

申请人：

中国航发商用航空发动机有限责任公司

申请人地址：

上海市闵行区莲花南路3998号

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

喻学兵

优先权：

CN201911128743.6

主分类号：

G01B11/27

IPC分类号：

G01B11/27

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01B

长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量

G01B11/27

••用于检测轴线准直

法律状态

2022-05-06 ：

授权

2021-06-04 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01B 11/27
申请日 : 20191118

2021-05-18 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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