光学测量系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种光学测量系统，用于待测物体的位移测量或振动测量，该光学测量系统包括一光源、一光电敏感元件及一扩束透镜组，该光源用于向待测物体表面发射激光，该光电敏感元件包括一由感光单元阵列构成的光接收面，用于接收被待测物体表面反射的激光，该扩束透镜组位于反射激光的行进路径上，且具有一与反射激光平行的光轴。该光学测量系统可测量物体的较小位移，且具有较高测量精度。
基本信息
专利标题 ：
光学测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1979091A
申请号 ：
CN200510101994.7
公开（公告）日 ：
2007-06-13
申请日 ：
2005-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
简扬昌
申请人 ：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址 ：
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200510101994.7
主分类号 ：
G01C3/00
IPC分类号 ：
G01C3/00 G01B11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C3/00
视距测量；光学测距仪
法律状态
2009-08-19 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-06-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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