光学测量装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种光学测量装置，光学待测物装载组件、位移组件及至少两种光学测量组件；光学待测物装载组件设置在位移组件上，光学待测物装载组件通过位移组件进行移动；光学待测物装载组件用于装载固定光学待测物；光学测量组件用于测量光学待测物；位移组件带动所述光学待测物装载组件移动的预设范围至少覆盖各个光学测量组件的测量区域。本实用新型通过多种光学测量组件对不同的待测件进行测量，实现较为方便的光学测量。
基本信息
专利标题 ：
光学测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122543177.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-20
授权号 ：
CN216593243U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
汪睿王永超
申请人 ：
奕目（上海）科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区剑川路951号1幢1206室
代理机构 ：
上海段和段律师事务所
代理人 ：
李佳俊
优先权 ：
CN202122543177.4
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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