光学干涉测量装置
避免重复授权放弃专利权
摘要

本实用新型公开了一种光学干涉测量装置及其方法。激光器产生的相干光束经过第一半透半反分束器分成两个相干光束,其中一个相干光束经过第一反射镜的移动产生一个相位变化,另一个相干光束经过第二反射镜进入相位调制组件,然后两个相干光束经过的半透半反分束器输出两个干涉光束,两个干涉光束经过探测器的探测变成电信号,电信号经过第一差分器和相关器实现对相位变化的测量。本实用新型利用特殊设计的赝随机相位序列实现干涉测量中相位灵敏度的提高。只需要一般的相干光源以及线性光学元件,在引力波探测、微纳米位移测量、光纤陀螺和光纤声纳探测等领域具有重要的应用前景。

基本信息
专利标题 :
光学干涉测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720110682.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-06-15
授权号 :
CN201050989Y
授权日 :
2008-04-23
发明人 :
符建
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
张法高
优先权 :
CN200720110682.7
主分类号 :
G01D5/26
IPC分类号 :
G01D5/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置;将传感构件的输出变换成不同变量的装置,其中传感构件的形式和特性不限制变换装置;非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置,即应用红外光、可见光或紫外光
法律状态
2011-01-12 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101060304239
IPC(主分类) : G01D 5/26
专利号 : ZL2007201106827
申请日 : 20070615
授权公告日 : 20080423
放弃生效日 : 20070615
2008-04-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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