分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法
专利申请的视为撤回
摘要
本发明公开了分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法，属光学测量领域。主要解决测量中nd范围较大时，零级和±1级用强度识别可能导致的误判问题。本方法利用干涉条纹中彩条关于零级条纹的对称性将强度识别改为色彩识别，从而避免了级次误判，大大提高测试精度。
基本信息
专利标题 ：
分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1102254A
申请号 ：
CN93111998.7
公开（公告）日 ：
1995-05-03
申请日 ：
1993-10-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
叶玉堂刘永智刘旭毛清明吴金谦
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
610054四川省成都市建设北路二段四号
代理机构 ：
电子科技大学专利事务所
代理人 ：
黄竞跃
优先权 ：
CN93111998.7
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1997-12-10 ：
专利申请的视为撤回
1995-09-13 ：
实质审查请求的生效
1995-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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