综合光学干涉仪
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
综合光学干涉仪不仅同时具备迈克尔逊干涉仪和付里叶光谱仪的功能，还具有方形视场、二维独立调节的镜架以及用定减速比的齿轮带动丝杠的动镜拖动系统；用干涉条纹光电计数器代替了目测计数；配备了偏振光干涉所用的偏振片、测量折射率所用的气池和光学平板玻璃；可获得清晰光谱图的全光学的付里叶变换的系统等。该仪器具有设计新、体积小、功能全、附件精和成本低等优点。广泛适用于高校、中学的光学实验教学及科研单位等的精密光学测量。
基本信息
专利标题 ：
综合光学干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89200442.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-01-14
授权号 ：
CN2046623U
授权日 ：
1989-10-25
发明人 ：
宋立尔何圣静翁占春
申请人 ：
北京大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村北京大学
代理机构 ：
北京大学专利事务所
代理人 ：
陈美章
优先权 ：
CN89200442.8
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
1994-06-01 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1990-05-23 ：
授权
1989-10-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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