波导干涉仪
授权
摘要
一种波导干涉仪、特别是光纤干涉仪，其用于测量物理参数、特别是反射配置中的层的光学厚度中的改变，其特征在于：它包含光源（1）、在至少双芯的纤维或平面的波导上、特别是光纤（6）上制成的耦合器（7），其中至少一个芯的面被激活，并且至少一个波导芯（6）直接或间接地连接到位于多芯光纤的与光源（1）相同的侧上的信号检测器（2）。
基本信息
专利标题 ：
波导干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110325816A
申请号 ：
CN201780075734.8
公开（公告）日 ：
2019-10-11
申请日 ：
2017-12-06
授权号 ：
CN110325816B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
T.纳斯洛斯基M.那皮尔拉拉L.奥斯特洛维斯基L.佐斯基维茨K.维索金斯基A.马克斯卡A.皮特尔M.穆拉维斯基D.布尼基J.菲德鲁斯Z.霍尔丁斯基
申请人 ：
信息技术有限公司
申请人地址 ：
波兰华沙
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
张健
优先权 ：
CN201780075734.8
主分类号 ：
G01B9/02
IPC分类号 ：
G01B9/02 G01B11/06 G02B6/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2019-12-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 9/02
申请日 : 20171206
申请日 : 20171206
2019-10-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN110325816A.PDF
PDF下载
