一种干涉仪

授权

摘要

本实用新型公开一种干涉仪，包括基座，在基座上设置有光源、分束镜、第一反射镜、第二反射镜以及摆动件；所述分束镜将光源产生的入射光分成透射的第一光束和反射的第二光束；所述第一光束经过第一反射镜反射后被分束镜分为第一反射光和第一透射光；所述第二光束经过第二反射镜反射后被分束镜分为第二反射光和第二透射光；所述第一反射镜和第二反射镜通过固定架设置于摆动件上，所述摆动件初始位置时，第一透射光和第二反射光两者光程相等，当摆动件带动第一反射镜和第二反射镜来回摆动过程中，使得第一透射光和第二反射光两者产生光程差。本实用新型具有干涉精度高、使用方便的有益效果。

基本信息

专利标题：

一种干涉仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022125462.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-24

授权号：

CN214474184U

授权日：

2021-10-22

发明人：

于志伟张建清张涵

申请人：

杭州春来科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市滨江区浦沿街道至仁街22号1幢3楼301室

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202022125462.X

主分类号：

G02B7/182

IPC分类号：

G02B7/182 G01B11/26 G01B9/02