错位场干涉仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明提出的错位场干涉仪，属技术光学领域，其特点是从干涉仪两臂射出来重新会合相干叠加的两光波，都是同一物场的象；适当移动有关零件，可以获得两个沿任意方向在空间上有微量错位的象场这两个错位象场相干叠加的结果，就是沿错位方向的梯度场，它能使不清晰的物场变得比较清晰，使模糊的轮廓显示的更加分明。
基本信息
专利标题 ：
错位场干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85105776A
申请号 ：
CN85105776.4
公开（公告）日 ：
1987-02-04
申请日 ：
1985-07-31
授权号 ：
CN1003391B
授权日 ：
1989-02-22
发明人 ：
王其祥
申请人 ：
华东工学院
申请人地址 ：
江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 ：
江苏省专利服务中心
代理人 ：
沈根水
优先权 ：
CN85105776.4
主分类号 ：
G01B9/02
IPC分类号 ：
G01B9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
1994-09-14 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-10-18 ：
授权
1989-02-22 ：
审定
1987-05-27 ：
实质审查请求
1987-02-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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