双齿干涉仪
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种双齿干涉仪,属于一种研究光的“干涉”和“衍射”的光学仪器。它包括两块齿板、齿板活动轴、实验平台和光源,其特征在于所述的齿板呈栅板状,分为上下两部分,上部刻齿,下部为平板,通过齿板活动轴将齿板立放在实验平台上,平板上设有观察孔,光源装在实验平台边缘。本实用新型具有结构简单、成本低廉、方便实用等优点。既可以产生所谓的光的“干涉”和“衍射”图像,又可以确证所有这些“干涉”和“衍射”图像都是由光线造成的,不是光波造成的,光没有波动性。

基本信息
专利标题 :
双齿干涉仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620136542.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-09-16
授权号 :
CN200959048Y
授权日 :
2007-10-10
发明人 :
李泰来
申请人 :
李泰来
申请人地址 :
210008江苏省南京市学府路大石桥4号105-303
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200620136542.2
主分类号 :
G02B27/00
IPC分类号 :
G02B27/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
法律状态
2010-12-01 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101020686153
IPC(主分类) : G02B 27/00
专利号 : ZL2006201365422
申请日 : 20060916
授权公告日 : 20071010
终止日期 : 20091016
2007-10-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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