移相横向剪切干涉仪
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要
一种移相横向剪切干涉仪，由第一起偏器、输入平行平板、第二起偏器、第三起偏器、第一剪切平板、第二剪切平板、输出平行平板、四分之一波片、检偏器、CCD相机和计算机组成，该移相横向剪切干涉仪为等光程干涉光学系统，剪切量连续可调，非常适合于短相干长度光束的波前测量，能满足不同光束口径和测量精度要求的波前检测。
基本信息
专利标题 ：
移相横向剪切干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720073974.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-08-22
授权号 ：
CN201096526Y
授权日 ：
2008-08-06
发明人 ：
王利娟刘立人孙建锋周煜
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
201800上海市800－211邮政信箱
代理机构 ：
上海新天专利代理有限公司
代理人 ：
张泽纯
优先权 ：
CN200720073974.8
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02 G01B9/02 G02B7/18
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2009-10-21 ：
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2007822
2008-08-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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