多波横向剪切干涉系统
授权
摘要
本申请公开了一种多波横向剪切干涉系统，涉及检测技术领域。多波横向剪切干涉系统用于对待检测物体进行检测，多波横向剪切干涉系统包括分光器件、移动平台、第一聚焦透镜、滤波器、第二聚焦透镜和图像探测器，待检测物体、分光器件、第一聚焦透镜、滤波器、第二聚焦透镜和图像探测器沿激光光源的光路方向依次分布，滤波器位于第一聚焦透镜与第二聚焦透镜的共焦位置，分光器件设置于移动平台上并可沿着激光光源的光路朝向或远离所述第一聚焦透镜移动。本申请公开的多波横向剪切干涉系统可实现连续变换的剪切比调整，从而十分方便快捷的对待测物体进行检测。
基本信息
专利标题 ：
多波横向剪切干涉系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123139109.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-13
授权号 ：
CN216593823U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
李优张秀平张军勇殷长志
申请人 ：
帛度光电科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市太仓市科教新城健雄路20号大学科技园10号楼306-308室
代理机构 ：
成都顶峰专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹源
优先权 ：
CN202123139109.8
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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