一种多方位同步相移横向剪切干涉装置及测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明为一种多方位同步相移横向剪切干涉装置及测量方法,其克服了现有技术中存在的剪切方向单一、测量精度低的问题,本发明剪切方向任意、测量精度高、可应用于车间检测。本发明包括依次设置的测试元件、分光元件、剪切单元、分光系统、定向偏振片阵列和CMOS相机,由偏振片双折射晶体和四分之一波片复合而成的剪切单元与自动控制单元连接,自动控制单元与计算机连接,CMOS相机与自动控制单元和计算机连接,分光元件一侧设置有激光光源。平行剪切偏振器由偏振片、双折射晶体和四分之一波片复合而成,其中偏振片的透光轴方向与x轴的夹角为0°,双折射晶体的光轴与x轴的夹角为45°,四分之一波片的快轴与x轴的夹角为45°。

基本信息
专利标题 :
一种多方位同步相移横向剪切干涉装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114323580A
申请号 :
CN202111568339.8
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
朱学亮王凯田爱玲刘丙才王红军朱亚辉王思淇张郁文
申请人 :
西安工业大学
申请人地址 :
陕西省西安市未央区学府中路2号
代理机构 :
西安新思维专利商标事务所有限公司
代理人 :
黄秦芳
优先权 :
CN202111568339.8
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G01M11/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20211221
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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