检测光束准直的剪切干涉仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属于光学仪器系统领域的一种检测光束准直的剪切干涉仪，用于光学与激光工程，光学与激光实验中光束准直的检测。由入射光阑屏、带有楔角的可以旋转360°的剪切干涉平板和图形观测屏三部分组成。这三部分既可以设计成一体式的，也可以是分离式的。本发明的干涉仪具有检测灵敏度高，可检测较大光束口径，并能够直接给出定量的结果等优点。
基本信息
专利标题 ：
检测光束准直的剪切干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1055600A
申请号 ：
CN90101910.0
公开（公告）日 ：
1991-10-23
申请日 ：
1990-04-03
授权号 ：
CN1018386B
授权日 ：
1992-09-23
发明人 ：
徐德衍
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
201800上海市嘉定县嘉定镇清河路390号
代理机构 ：
中国科学院上海专利事务所
代理人 ：
李兰英
优先权 ：
CN90101910.0
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G02B9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
1997-05-21 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-06-23 ：
授权
1992-09-23 ：
审定
1991-10-23 ：
公开
1991-03-27 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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