本发明涉及激光的测量和光学检测领域。用于测量激光的斐索干涉波长计，平行光束中的一部分光经过由平板后经过第一楔板结构形成密干涉条纹图像；平行光束中的另一部分光经过由平板后经过第二楔板结构形成疏干涉条纹图像；密干涉条纹图像、疏干涉条纹图像经过成像物镜成像在图像摄取装置上，分析装置对密干涉条纹图像数据、疏干涉条纹图像数据，进行分析获得入射激光的波长。光学设备，利用所述的用于测量激光的斐索干涉波长计测量激光源，并根据测量结果校准激光源。本发明提高波长测试精度、系统内部无运动部件、结构牢固可靠，稳定性好。