用双波长激光进行外差干涉测量绝对距离系统
专利权的视为放弃
摘要
本发明涉及一种用双波长激光进行外差干涉测量绝对距离的系统，属精密测量技术领域。该测距系统包括产生偏振方向正交的两个波长的激光器，实现双波长外差干涉的外差干涉仪，将外差信号进行光电转换的声光调制器以及外差信号的相位检测电路和数据处理单元。本发明的测距系统具有测量时间短、测量精度高、不易受环境影响、抗干扰能力强以及干涉仪结构简单等优点。
基本信息
专利标题 ：
用双波长激光进行外差干涉测量绝对距离系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1099128A
申请号 ：
CN94101493.2
公开（公告）日 ：
1995-02-22
申请日 ：
1994-03-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵洋任伟明梁晋文
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
100084北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
罗文群
优先权 ：
CN94101493.2
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01B9/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2000-11-08 ：
专利权的视为放弃
1995-02-22 ：
公开
1995-02-08 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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