用于波长测量的干涉仪器
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种用于波长测量的干涉仪器,包括:光输入端口、遮光罩、离轴抛物面反射镜、第一平板玻璃、第二平板玻璃、至少2个柱透镜和至少2个线性光电探测器,所述第一平板玻璃与第二平板玻璃之间设置有一中央具有镂空区且带有楔角的隔离框,从而形成一密封腔,所述第一平板玻璃的前表面与第二平板玻璃的后表面相向设置;所述第一平板玻璃的前表面一侧设置有至少一个厚度且位于密封腔内的小平板玻璃,前表面另一侧具有一第一反射层,所述第二平板玻璃的后表面具有第二反射层。本发明用于波长测量的干涉仪器在不增加光路尺寸的同时,检测的光谱范围宽且能同时对多种波长类型的光波长光精确测量,达到了pm级测量精度。
基本信息
专利标题 :
用于波长测量的干涉仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114323311A
申请号 :
CN202110912187.2
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-08-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
胡海洋金镖黄建军廉哲
申请人 :
苏州联讯仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
王健
优先权 :
CN202110912187.2
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/02
申请日 : 20210810
申请日 : 20210810
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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