一种利用干涉原理完成激光波长测量的装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种利用干涉原理完成激光波长测量的装置,包括待测激光源、分光镜、反光镜、第一平面反射镜、第二平面反射镜、透镜、光电探测器、处理器,待测激光源向分光镜发射待测激光束,分光镜将待测激光束反射/透射至反光镜,以及将待测激光束透射/反射至第二平面反射镜,反光镜将接收到的待测激光束反射至第一平面反射镜;第一平面反射镜将接收到的待测激光束反射至透镜,第二平面反射镜将接收到的待测激光束反射至透镜;透镜将接收到的两束待测激光束透射至光电探测器,与光电探测器电连接的处理器检测光电探测器上产生的干涉现象,并计算待测激光束的波长。
基本信息
专利标题 :
一种利用干涉原理完成激光波长测量的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922137801.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-03
授权号 :
CN210689822U
授权日 :
2020-06-05
发明人 :
张白杨来龙高洋周春艳刘杰
申请人 :
北方民族大学
申请人地址 :
宁夏回族自治区银川市西夏区文昌北路204号
代理机构 :
北京市领专知识产权代理有限公司
代理人 :
任君
优先权 :
CN201922137801.3
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2020-06-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN210689822U.PDF
PDF下载