一种干涉式激光波长测量装置
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摘要
本实用新型涉及一种干涉式激光波长测量装置,包括:已知激光光学组件,用于发射已知激光束并实现干涉测量,得到参考的干涉数据;待测激光光学组件,用于对待测激光束实现干涉测量,并参照已知激光光学组件得到的干涉数据,计算得到待测激光束的波长;第一直角反射镜、与第一直角反射镜平行设置的第二直角反射镜,且第二直角反射镜的反射结构与第一直角反射镜的反射结构相对,所述已知激光光学组件发射的已知激光束和待测激光光学组件发射的待测激光束在第一直角反射镜和第二直角反射镜之间进行多次反射。只要利用一束已知波长的激光束,即可通过本装置得到任何待测激光束的波长,且本装置操作简便,计算得到的待测激光束波长精度也高。
基本信息
专利标题 :
一种干涉式激光波长测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921807017.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-25
授权号 :
CN210571045U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
潘俊涛张巍巍张鹏辉肖岩
申请人 :
北方民族大学
申请人地址 :
宁夏回族自治区银川市西夏区文昌北路204号
代理机构 :
北京市领专知识产权代理有限公司
代理人 :
张玲
优先权 :
CN201921807017.2
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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