一种基于干涉方式的激光波长测量装置
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摘要

本实用新型涉及一种基于干涉方式的激光波长测量装置,包括:待测激光源,用于发射待测激光束;分光镜,用于接收待测激光束,并将待测激光束透射至楔形反光镜,以及反射至透镜;楔形反光镜,用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜;透镜,用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束,并将待测激光束透射至光电探测器;光电探测器,用于接收透镜透射的待测激光束;处理器,与光电探测器电连接,用于检测光电探测器上产生的干涉现象。本实用新型中测量装置所使用的光学器件简单,无需标准波长激光源参与测量,大大降低了测量装置的复杂度,并且也提高了装置对待测激光波长的测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种基于干涉方式的激光波长测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922065808.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN210802701U
授权日 :
2020-06-19
发明人 :
赵虎毛建东周春艳张白
申请人 :
北方民族大学
申请人地址 :
宁夏回族自治区银川市西夏区文昌北路204号
代理机构 :
北京市领专知识产权代理有限公司
代理人 :
任君
优先权 :
CN201922065808.9
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2020-06-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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