一种基于双缝干涉的波长测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于双缝干涉的波长测量装置,包括底座和双缝,还包括激光笔、遮光板和光屏;所述底座的左侧设置支架,所述支架上固定设置激光笔,所述底座的右侧设置与激光笔中心对齐的光屏,所述底座中间设置左右滑轨,所述左右滑轨内可滑动设置移动支架,所述移动支架上设置挡光板,所述挡光板上设置与激光笔中心对齐的双缝卡槽,所述双缝卡槽内镶嵌设置双缝。与现有技术相比,它的零部件更少,实验步骤得到了极大的简化,且操作难度和要求也更容易实现,在提升了测量精度的同时,使实验过程变得简单,更容易被学生理解和接受。

基本信息
专利标题 :
一种基于双缝干涉的波长测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123386164.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
CN216645620U
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
李慧芳王法社代欣欣郑秀岫
申请人 :
临沂大学
申请人地址 :
山东省临沂市兰山区工业大道北段西侧临沂大学
代理机构 :
北京智行阳光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李腾飞
优先权 :
CN202123386164.7
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  G09B23/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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