一种基于双缝干涉的波长测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于双缝干涉的波长测量装置，包括底座和双缝，还包括激光笔、遮光板和光屏；所述底座的左侧设置支架，所述支架上固定设置激光笔，所述底座的右侧设置与激光笔中心对齐的光屏，所述底座中间设置左右滑轨，所述左右滑轨内可滑动设置移动支架，所述移动支架上设置挡光板，所述挡光板上设置与激光笔中心对齐的双缝卡槽，所述双缝卡槽内镶嵌设置双缝。与现有技术相比，它的零部件更少，实验步骤得到了极大的简化，且操作难度和要求也更容易实现，在提升了测量精度的同时，使实验过程变得简单，更容易被学生理解和接受。
基本信息
专利标题 ：
一种基于双缝干涉的波长测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123386164.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
CN216645620U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
李慧芳王法社代欣欣郑秀岫
申请人 ：
临沂大学
申请人地址 ：
山东省临沂市兰山区工业大道北段西侧临沂大学
代理机构 ：
北京智行阳光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李腾飞
优先权 ：
CN202123386164.7
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02 G09B23/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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