一种激光波长测量系统、激光波长计算方法及计算系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种激光波长测量系统、激光波长计算方法及计算系统,属于光干涉测试技术领域。该激光波长测量系统包括:分光装置,用于将待测激光分成呈预设角度布置且分光比为50:50的反射光束和透射光束,所述反射光束和所述透射光束均为平行光束;薄型斐索干涉腔、第一柱面镜和第一线列探测器,依次设置于所述反射光束的下游且均与所述反射光束垂直;厚型斐索干涉腔、第二柱面镜和第二线列探测器,依次设置于所述透射光束的下游且均与所述透射光束垂直,所述薄型斐索干涉腔的厚度小于所述厚型斐索干涉腔的厚度。本发明的激光波长测量系统、激光波长计算方法及计算系统能够兼顾激光波长的测量速度和精度。

基本信息
专利标题 :
一种激光波长测量系统、激光波长计算方法及计算系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485964A
申请号 :
CN202210406141.8
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄建军金镖廉哲刘皓寒
申请人 :
苏州联讯仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区湘江路1508号1号楼
代理机构 :
北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵燕燕
优先权 :
CN202210406141.8
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/02
申请日 : 20220418
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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