一种实时测量激光波长的系统
授权
摘要
本申请提供了一种实时测量激光波长的系统，涉及激光测量技术领域，旨在提供一种简单准确地实时测量激光器波长的系统。包括：分光结构(1)、平行平板(2)，第一光电探测器组(3)、第二光电探测器组(4)、第一放大电路(5)、第二放大电路(6)以及数据采集装置(7)。通过分光结构(1)设置多束入射光，多束入射光经过平行平板(2)后形成多组数据，数据采集装置(7)对多组数据进行处理，得到多个反射光的光强与透射光的光强的比值，结合当前激光器的温度，确定出射激光的波长。
基本信息
专利标题 ：
一种实时测量激光波长的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020131821.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-20
授权号 ：
CN211668646U
授权日 ：
2020-10-13
发明人 ：
郭瑞民董贺伟李东
申请人 ：
中国计量科学研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区北三环东路18号
代理机构 ：
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
莎日娜
优先权 ：
CN202020131821.X
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2020-10-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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