一种基于迈克尔逊干涉仪的光波长自动测量装置
授权
摘要

本实用新型提供一种基于迈克尔逊干涉仪的光波长自动测量装置。所述基于迈克尔逊干涉仪的光波长自动测量装置包括:干涉仪本体;安装架,安装架设置于干涉仪本体的一侧;光强探测装置,光强探测装置设置于安装架的上方;支撑装置,支撑装置设置于干涉仪本体的一侧。本实用新型提供的基于迈克尔逊干涉仪的光波长自动测量装置具有避免了电机转轴与干涉仪手轮不同轴的问题,减小了电机抖动,利用单片机驱动步进电机转动干涉仪的手轮,实时记录干涉光强变化的波形,实现了光波波长的自动测量,减小了实验误差,利用显示屏实时显示实验数据,使用步进电机步进角度记录反射镜位移值,自动计算数据结果,使实验更加直观简便。

基本信息
专利标题 :
一种基于迈克尔逊干涉仪的光波长自动测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921255842.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-05
授权号 :
CN210487091U
授权日 :
2020-05-08
发明人 :
党晨
申请人 :
西安工业大学
申请人地址 :
陕西省西安市金花北路4号
代理机构 :
深圳众邦专利代理有限公司
代理人 :
王红
优先权 :
CN201921255842.6
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  G01B9/02  G09B23/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2020-05-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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