一种测量液晶透过波前的干涉仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种测量液晶透过波前的干涉仪，包括基座和安装在基座上的工控机；所述基座上设置有光路结构；所述基座上安装有相机，相机连接工控机；所述光路结构包括光源设备和对应光源设备的反射参考镜；光源设备与反射参考镜之间依次设置有分光棱镜、第一准直镜和透射参考镜；所述分光棱镜上另一侧位置对应相机，且相机的镜头与分光棱镜之间设置有第二准直镜。本实用新型是一种基于激光的干涉仪，采用线偏振光输出，且偏振方向与液晶盲孔或液晶面板的双折射O光方向一致，实现液晶盲孔或液晶面板的透过波前测量的正确。
基本信息
专利标题 ：
一种测量液晶透过波前的干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021794471.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-25
授权号 ：
CN212513351U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
祝沛
申请人 ：
上海乾曜光学科技有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区恒永路328弄59号
代理机构 ：
上海助之鑫知识产权代理有限公司
代理人 ：
王风平
优先权 ：
CN202021794471.1
主分类号 ：
G01J9/02
IPC分类号 ：
G01J9/02 G01J9/00 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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