透过率相关频谱法颗粒测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种透过率相关频谱法颗粒测量装置,其特点是本实用新型是利用颗粒在窄光束照射下透过率信号的脉动特性,对透过率脉动信号作相关处理的装置,由此得到颗粒的速度、颗粒的粒度分布和颗粒浓度信息。采用了光信号的动态特性和信号的相关处理,可以测量微米级以上颗粒的粒径分布、浓度和速度。本实用新型的有益效果是,测量装置简单、价廉,可实现在线、实时检测,可实现同时对颗粒粒径分布、浓度和速度进行测试。可用于科学研究、化工能源的生产与过程控制、环境保护、水质检测等涉及颗粒测量的多个领域。

基本信息
专利标题 :
透过率相关频谱法颗粒测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720071744.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-06-27
授权号 :
CN201096701Y
授权日 :
2008-08-06
发明人 :
沈建琪蔡小舒于彬
申请人 :
上海理工大学
申请人地址 :
200093上海市杨浦区军工路516号
代理机构 :
上海申汇专利代理有限公司
代理人 :
吴宝根
优先权 :
CN200720071744.8
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/59  G06F19/00  G06F17/15  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005900625
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2007200717448
申请日 : 20070627
授权公告日 : 20080806
2008-08-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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