透过率脉动法颗粒测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种透过率脉动法颗粒测量装置,窄光束照射到流过的颗粒产生透过率脉动信号,通过光电探测器检测,采用模拟电路处理信号,降低了对数据采集速度、数据采集量、储存量、处理量等方面的要求,缩短了数据处理时间,可实现实时测量。加入了参考光探测用于获得入射光强度变化信息,参考光探测起到校正作用,可避免光源不稳定对测量结果的干扰影响。可实现同时对颗粒平均粒径和浓度进行测试。对颗粒粒径与光束截面大小没有Gregory方法的限制,可测颗粒粒径范围大。本实用新型可用于科学研究、化工能源的生产与过程控制、环境保护、水质检测等涉及颗粒测量的多个领域。

基本信息
专利标题 :
透过率脉动法颗粒测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720071745.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-06-27
授权号 :
CN201063015Y
授权日 :
2008-05-21
发明人 :
沈建琪蔡小舒于彬
申请人 :
上海理工大学
申请人地址 :
200093上海市杨浦区军工路516号
代理机构 :
上海申汇专利代理有限公司
代理人 :
吴宝根
优先权 :
CN200720071745.2
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/59  G06F19/00  G06F17/15  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005903285
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2007200717452
申请日 : 20070627
授权公告日 : 20080521
2008-05-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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