一种基于后向光子相关光谱的高浓度超细颗粒测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种基于后向光子相关光谱的高浓度超细颗粒测量装置,入射光路由激光器、平面反射镜、透镜组、针孔光阑和样品池组成,接收光路由样品池、透镜组、针孔光阑组成,散射信号的采集和处理单元由光探测器、数字相关器和计算机组成;测量步骤为:1.用激光器作为光源,照射到盛有颗粒的样品池内;2.用光电倍增管作为光探测器以180度的散射角连续测量散射光信号;3.用数字相关器对光电倍增管输出的脉冲信号进行计数,并计算自相关函数送入计算机;4.计算机根据所计算的自相关函数求得颗粒的粒径。本实用新型测量精度高速度快,并可进行在线测量;光路部分采用的都是普通的光学元件,因此可大大降低了装置的成本,而且易于维护。

基本信息
专利标题 :
一种基于后向光子相关光谱的高浓度超细颗粒测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820054407.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-01-02
授权号 :
CN201145663Y
授权日 :
2008-11-05
发明人 :
杨晖郑刚孔平
申请人 :
杨晖;郑刚;孔平
申请人地址 :
200093上海市杨浦区军工路516号2号信箱
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200820054407.2
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/51  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2011-06-15 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101079288480
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2008200544072
申请日 : 20080102
授权公告日 : 20081105
终止日期 : 20100102
2010-12-29 :
文件的公告送达
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101058190493
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2008200544072
专利申请号 : 2008200544072
收件人 : 杨晖
文件名称 : 专利权终止通知书
2008-11-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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