一种NAND颗粒的坏块识别方法及相关装置
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种NAND颗粒的坏块识别方法，包括：通过测试工具从NAND颗粒中读取原厂标记的坏块；根据所述NAND颗粒中原厂标记的坏块以及预设筛选标准，对所述NAND颗粒进行筛选；剔除不满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒；保留满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒，并将满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒的坏块信息保存到满足所述预设筛选标准的所述NAND颗粒中。该方法在组装SSD前对NAND颗粒进行坏块识别，能够避免SSD返工，提升SSD的品质，减少人工的工作量。本申请还公开了一种NAND颗粒的坏块识别装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
基本信息
专利标题 ：
一种NAND颗粒的坏块识别方法及相关装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114267406A
申请号 ：
CN202210183430.6
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张琪
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
耿苑
优先权 ：
CN202210183430.6
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56 B07C5/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20220228
申请日 : 20220228
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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