本发明公开了一种基于库仑计的坏块检测方法、设备及存储介质，该方法包括：在对非易失性存储器进行检测的过程中，通过所述库仑计芯片记录各个操作所消耗的电能；判断各个操作所消耗的电能是否都在预设范围内；将一个或多个操作所消耗的电能不在预设范围内的块标记为坏块。由此，通过库仑计芯片记录各个操作所消耗的电能，将电能异常的坏块标记为坏块，可以及早准确发现非易失性存储器的坏块，避开对风险区域的操作，可以极大提高非易失性存储器的使用寿命。