光学测量系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
以非接触方式测量物体长度的光学测量设备，它有一个发射平行扫描线，如激光束以扫描待测物体的光扫描系统。平行扫描线由一个光检测器检测，当光线被物体阻挡时，它产生一个暗输出信号；当光线没有被物体阻挡时，它产生一个亮信号。代表物体外形边缘的被检测到的信号被送给一个计数器以控制起/停开关。该计数器对起停时间内的时钟脉冲计数。这个计数值可以给出物体外形的长度。
基本信息
专利标题 ：
光学测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85106386A
申请号 ：
CN85106386.1
公开（公告）日 ：
1987-03-18
申请日 ：
1985-08-24
授权号 ：
CN1009487B
授权日 ：
1990-09-05
发明人 ：
西原贞光河原勇司
申请人 ：
株式会社三丰制作所
申请人地址 ：
日本国东京都港区芝5丁目33番7号
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
赵蓉民
优先权 ：
CN85106386.1
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1999-10-13 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-04-03 ：
授权
1990-09-05 ：
审定
1988-12-21 ：
实质审查请求
1987-03-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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