光学测量设备
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：光学测量设备。2.本外观设计产品的用途：用于通过光学原理测量产品的尺寸、平面度、台阶段差、厚度、线轮廓、面轮廓、弧高、圆直径、位置度等的测量设备。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
基本信息
专利标题 ：
光学测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130836894.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-17
授权号 ：
CN307232885S
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
叶华平贺金龙陈鲁张嵩
申请人 ：
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 ：
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
廖金晖
优先权 ：
CN202130836894.9
主分类号 ：
10-04
IPC分类号 ：
10-04
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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