光学测量设备
授权
摘要
本申请公开了光学测量设备，包括：发射多个波长的光的光源(1)；来自光源(1)的光通过其的第一共焦光阑(2)；光学照射/成像系统(BA)，至少包括：第一分光元件(4)，其被设计为棱镜或光栅，进入第一分光元件(4)的光被使得准直；及与第一分光元件(4)空间上分开的、具有至少一第一透镜的第一透镜系统(5)，第一透镜系统(5)的有效焦距(f(λ))对于不同波长而显著不同(λ)，使得光学照射/成像系统(BA)设计成使得不同波长的焦点被形成在不同位置，这些位置沿与第一透镜系统(5)的对称轴(40)形成锐角的线段(41)坐落。该测量设备配置成测量与所述线段(41)交叉并反射至少一部分光的物体(30)。
基本信息
专利标题 ：
光学测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922118460.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211783339U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
C·迪茨
申请人 ：
普雷茨特光电有限公司
申请人地址 ：
德国新伊森堡
代理机构 ：
北京金阙华进专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈建春
优先权 ：
CN201922118460.5
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G01B11/14 G01B11/06 G02B27/12 G02B27/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN211783339U.PDF
PDF下载
