用于光学测量物体的形状和表面的设备
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摘要
本发明涉及一种用于光学形状测量和/或者检验物体的设备，其具有至少一个照相机、至少一个物镜、散射体和至少两个光源。该设备的特征在于，散射体是不透明的，并且至少两个光源固定在散射体内部，由此照射其内部，并且仅使用在设想直径线上彼此相对的两个光源，或者将光源固定在优选等边三角形的角上或者十字上。
基本信息
专利标题 ：
用于光学测量物体的形状和表面的设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101147042A
申请号 ：
CN200680009574.9
公开（公告）日 ：
2008-03-19
申请日 ：
2006-03-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
克里斯托夫·瓦格纳
申请人 ：
OBE－工厂翁玛赫特与鲍姆盖特纳公司
申请人地址 ：
德国伊斯普林根
代理机构 ：
北京维澳专利代理有限公司
代理人 ：
江怀勤
优先权 ：
CN200680009574.9
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G01N21/88
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2010-12-29 ：
授权
2008-05-14 ：
实质审查的生效
2008-03-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
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