测量物体形状的方法和装置
专利权的终止
摘要

按照本发明的一个方面,提供测量物体(12)形状的系统(10)。所述系统包括投影系统(14),用于将具有干涉条纹参考标记的干涉条纹图投影到物体(12)上。所述系统还包括图像处理系统(26),用于捕获由物体(12)所调制的干涉条纹图的图像(20)。图像处理系统(26)还可用于识别干涉条纹图的图像中的参考标记,根据参考标记来构建物体的形状。

基本信息
专利标题 :
测量物体形状的方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1766522A
申请号 :
CN200510108755.4
公开(公告)日 :
2006-05-03
申请日 :
2005-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
Q·胡K·G·哈丁
申请人 :
通用电气公司
申请人地址 :
美国纽约州
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
杨凯
优先权 :
CN200510108755.4
主分类号 :
G01B11/25
IPC分类号 :
G01B11/25  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形,例如莫尔条纹
法律状态
2016-11-16 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101687370794
IPC(主分类) : G01B 11/25
专利号 : ZL2005101087554
申请日 : 20050930
授权公告日 : 20090729
终止日期 : 20150930
2009-07-29 :
授权
2007-12-05 :
实质审查的生效
2006-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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