三维形状测量方法及三维形状测量装置
实质审查的生效
摘要

本发明提供了三维形状测量方法及三维形状测量装置,无论对象物的形状如何,都能够以高测量精度测量对象物的三维形状。三维形状测量方法的特征在于,具有:在将包含于光的三原色中的两个颜色的光设为第一光及第二光时,将基于所述第一光的第一光栅图案及基于所述第二光的第一整面图案投影到对象物的步骤;通过三色摄像机拍摄投影到所述对象物的所述第一光栅图案及所述第一整面图案,并获取基于所述第一光的第一拍摄图像及基于所述第二光的第二拍摄图像的步骤;以及使用所述第一拍摄图像计算所述对象物的高度信息,且使用所述第二拍摄图像计算所述对象物的位置信息的步骤。

基本信息
专利标题 :
三维形状测量方法及三维形状测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264252A
申请号 :
CN202111081169.0
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-09-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
成松修司堀口宏贞长谷川浩
申请人 :
精工爱普生株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
李丹
优先权 :
CN202111081169.0
主分类号 :
G01B11/25
IPC分类号 :
G01B11/25  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形,例如莫尔条纹
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/25
申请日 : 20210915
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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