光学非接触式三维形状测量仪
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

本实用新型涉及一种测量仪,尤其涉及一种利用激光技术对变截面厚度的物体截面形状测量的光学非接触式三维形状测量仪。包括机架、设于机架前部中心处的可在X轴及Y轴方向调整的二维移动台及设于二维移动台后部的横梁,其所述的横梁的两侧臂上相对设有线激光光源部,所述的横梁上固连两个长物距光学成像部,其光学轴线与线激光光源部的光学轴线成对称角度并在同一平面。本实用新型实现了对厚度差不超过20mm,长宽无需限制的非接触式截面变厚度物体的形状的测量,应用范围广、测量速度快、非接触、低成本、高精度,并且可以给出相当于三坐标机的三个坐标数据,具有很高的经济效益和社会效益。

基本信息
专利标题 :
光学非接触式三维形状测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620091428.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-06-08
授权号 :
CN2914032Y
授权日 :
2007-06-20
发明人 :
邱大明刘德佳田雅杰
申请人 :
邱大明;刘德佳;田雅杰
申请人地址 :
110015辽宁省沈阳市沈河区万莲路一号
代理机构 :
辽宁沈阳国兴专利代理有限公司
代理人 :
李丛
优先权 :
CN200620091428.2
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2009-08-19 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 20090805
2007-06-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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