用于光学齿轮测量的方法和设备
公开
摘要
本发明涉及一种方法，包括以下方法步骤：提供部件(2)，该部件具有齿部(4)，该齿部具有预定标称几何特征(22)；提供测量装置(16)，其具有光学测量系统(18)；通过光学测量系统(18)测量部件(2)的齿部(4)，其中检测测量点(20)；评估测量点(20)；其中，对测量点(20)的评估至少包括以下步骤：通过筛选将测量点(20)分组为齿侧组(26)；从齿侧组(26)的测量点(20)对轮廓段(28、30)进行建模，其中每个齿侧组(26)被分配有一轮廓段(28、30)；基于轮廓段(28、30)确定齿部的一个或多个几何参数。
基本信息
专利标题 ：
用于光学齿轮测量的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114623779A
申请号 ：
CN202111525845.9
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
M·芬凯尔蒂J·默克特J·斯特费尔
申请人 ：
科令志因伯格有限公司
申请人地址 ：
德国许克斯瓦根
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
朱海涛
优先权 ：
CN202111525845.9
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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