一维行程扩展自密封辐照松弛全自动检测装置及方法
公开
摘要
一维行程扩展自密封辐照松弛全自动检测装置及方法属于辐照松弛特性测量领域；所述装置包括导轨组件、水平直线运动滑块和多功能装置，在隔振台架上固装导轨组件，水平直线运动滑块可往复移动地配装在导轨组件上；在水平直线运动滑块上安装自密封辐照松弛组件，在隔振台架上依次固装多功能装置和压力测量系统，多功能装置和压力测量系统位于自密封辐照松弛组件的上方；通过自密封辐照松弛组件依次同气体交换与螺栓旋转机构、盒盖摘取机构和压力测量系统的配合完成检测；解决了辐照松弛特性全自动、高精度测量及自动化气体保护的问题。
基本信息
专利标题 ：
一维行程扩展自密封辐照松弛全自动检测装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114354383A
申请号 ：
CN202210003677.5
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2022-01-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
崔俊宁齐宝军丁宁康博
申请人 ：
哈尔滨工业大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210003677.5
主分类号 ：
G01N3/20
IPC分类号 ：
G01N3/20 G01N3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/20
施加稳定的弯曲力
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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