用于测试多个被测设备的测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种用于测试多个被测设备的测试系统，包括：并行耦合到上位机的至少一个测试子系统，每一个所述测试子系统包括耦合到所述上位机的通信设备和至少一个测试设备，并被配置成用于耦合到所述多个被测设备中的一个被测设备，其中，所述上位机为所述至少一个测试子系统分配不同的第一地址，并且其中，在每一个所述测试子系统中为所述至少一个测试设备和所述被测设备分配不同的第二地址。
基本信息
专利标题 ：
用于测试多个被测设备的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114374631A
申请号 ：
CN202210010573.7
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2022-01-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
唐锋张华峰徐素珍
申请人 ：
安波福电子(苏州)有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区长阳街123号
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
周全
优先权 ：
CN202210010573.7
主分类号 ：
H04L43/50
IPC分类号 ：
H04L43/50 H04L61/50 H04L61/5046 H04L12/40 G06F13/40
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 43/50
申请日 : 20220105
申请日 : 20220105
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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