基于伪表面等离激元三维堆叠结构的传感器
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种基于伪表面等离激元三维堆叠结构的传感器,包括层叠的硅介质板和亚波长金属狭缝光栅、太赫兹激光器以及太赫兹探测器,硅介质板和亚波长金属狭缝光栅之间还留有一定的空气间隙,太赫兹激光器将太赫兹波以横磁模发射到层叠的硅介质板和亚波长金属狭缝光栅,激发伪表面等离激元,太赫兹探测器探测到的反射波谱上就会出现一个由伪表面等离激元导致的波谷,当在硅介质板和亚波长金属狭缝光栅之间加入测试样品后,伪表面等离激元反射谷将会出现红移,根据红移程度以及该传感器的灵敏度,就可以计算出测试样品的折射率,进而根据折射率推断出测试样品是何种物质,从而实现高灵敏度传感的效果。

基本信息
专利标题 :
基于伪表面等离激元三维堆叠结构的传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324241A
申请号 :
CN202210012029.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭旭光郑兴国朱亦鸣
申请人 :
上海理工大学
申请人地址 :
上海市杨浦区军工路516号
代理机构 :
上海德昭知识产权代理有限公司
代理人 :
卢泓宇
优先权 :
CN202210012029.6
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41  G01N21/63  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20220106
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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