基于存内计算架构的绝缘子健康状况诊断方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种基于存内计算架构的绝缘子健康状况诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将光纤电流传感器、温度传感器、湿度传感器装置于杆塔上与绝缘子串连接，光纤电流传感器、温度传感器、湿度传感器均通过光纤与数据处理模块连接，数据处理模块包括RRAM存算模块；步骤2，通过光纤电流传感器、温度传感器、湿度传感器采集相应数据并传送至数据处理模块中；步骤3，数据处理模块进行数据处理及健康预警。步骤1中，RRAM存算模块按照3*n的格式布置为矩阵形式，其中每个节点均为单个RRAM单元。本发明解决了现有技术中存在的设备维修过程艰难、诊断结果实时性差的问题。
基本信息
专利标题 ：
基于存内计算架构的绝缘子健康状况诊断方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545113A
申请号 ：
CN202210021010.8
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张嘉伟张贵权叶子帆王倩秦司晨
申请人 ：
西安理工大学
申请人地址 ：
陕西省西安市碑林区金花南路5号
代理机构 ：
西安弘理专利事务所
代理人 ：
王奇
优先权 ：
CN202210021010.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220110
申请日 : 20220110
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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