一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，该三同轴电缆屏蔽效能测试系统包括矢量网络分析仪以及低频圆筒测试工装。所述低频圆筒测试工装包括外回路近端短路结构、屏蔽帽结构及金属筒体结构，其中，所述外回路近端短路结构包括端盖、短路夹片、夹头座二、弹性夹头二、夹头螺帽二；所述屏蔽帽结构包括内回路远端屏蔽盒、外回路远端组件、支撑组件以及连接器。
基本信息
专利标题 ：
一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325106A
申请号 ：
CN202210023581.5
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-01-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵大勇杨润泽
申请人 ：
上海凌世电磁技术有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区同普路1225弄5号楼2楼
代理机构 ：
上海市锦天城律师事务所
代理人 ：
刘民选
优先权 ：
CN202210023581.5
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/02
申请日 : 20220110
申请日 : 20220110
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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