非对称双芯光纤的弯曲测量结构、实验仪器以及传感器
公开
摘要
本发明涉及弯曲检测技术领域，提供了一种非对称双芯光纤的弯曲测量结构、实验仪器以及传感器。其中，非对称双芯光纤的弯曲测量结构，包括：光纤传感单元，所述光纤传感单元至少包括一段双芯光纤，所述双芯光纤具有两非对称的纤芯；弯曲板，所述光纤传感单元固定于弯曲板上，且所述光纤传感单元沿弯曲板的一端至另一端平直延伸布置；光源，所述光源连接于所述光纤传感单元的一端的端口；光电检测装置，所述光电检测装置连接于所述光纤传感单元的另一端的端口。本发明给出的非对称双芯光纤的弯曲测量结构，利用双芯光纤的两纤芯对外界弯曲变化敏感程度不一致的特性，实现对弯曲程度的测量和对弯曲方向的辨别，灵敏度高，成本低。
基本信息
专利标题 ：
非对称双芯光纤的弯曲测量结构、实验仪器以及传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114562953A
申请号 ：
CN202210028123.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-01-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
颜玢玢杨会平苑金辉桑新柱王葵如
申请人 ：
北京邮电大学
申请人地址 ：
北京市海淀区西土城路10号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
邹义威
优先权 ：
CN202210028123.0
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G02B6/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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