一种高精度、快速寻找聚变中子入射点位置的方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了脉冲式快中子成像领域中的一种高精度、快速寻找聚变中子入射点位置的方法,将所有测得的信号分类形成若干集合,利用霍夫变换的映射关系,对每个集合内的所有信号的径迹进行重建,并找到所有中子入射点的位置。本发明先对信号进行归类和分割,使得所需分析的数据量大大降低,可以循环穷尽每个信号集合中所有的信号并提取其径迹,使得系统的运行速度得到极大提升。另外,本发明在实现径迹寻找过程中采用优化的霍夫变换算法,最终获得中子入射点,可以实现高效、高精度的中子入射点寻找。

基本信息
专利标题 :
一种高精度、快速寻找聚变中子入射点位置的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325810A
申请号 :
CN202210030656.2
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张春晖曹磊峰代艳萌李迪开俞健邓嘉玲汪雪周沧涛阮双琛
申请人 :
深圳技术大学
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区石井街道兰田路3002号
代理机构 :
深圳市远航专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
田志远
优先权 :
CN202210030656.2
主分类号 :
G01T5/02
IPC分类号 :
G01T5/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T5/00
粒子的运动或轨迹的记录;粒子轨迹的处理或分析
G01T5/02
轨迹的处理;轨迹的分析
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 5/02
申请日 : 20220112
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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