一种用于MPW产品测试数据自动区分归类的方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种用于MPW产品测试数据自动区分归类的方法,在工作表对话框中设置MPW掩膜版设计排布的行列数;提供原始测试数据文件,包含MPW产品晶粒所对应的坐标;根据坐标获取行列最大值;根据行列最大值建立二维数组并初始化为0;将二维数组与坐标比较,若原始测试数据文件中某测试坐标有测试数据,则将对应的二维数组的对应位置数据设为1;遍历二维数组,判断原始测试数据文件是否有测试数据,若无测试数据,则继续遍历;若有测试数据,则将测试数据替换为设计名称。在原始测试数据文件中的坐标列前添加设计名称列,将坐标与所述二维数组的坐标进行匹配,将二维数组内的设计名称复制到对应的原始测试数据文件中的所述坐标前的设计名称列中。

基本信息
专利标题 :
一种用于MPW产品测试数据自动区分归类的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114429113A
申请号 :
CN202210030902.4
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2022-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
何玉警顾昊元严冬东蔡晨
申请人 :
上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路1399号
代理机构 :
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 :
戴广志
优先权 :
CN202210030902.4
主分类号 :
G06F40/18
IPC分类号 :
G06F40/18  G06F40/183  G06F40/174  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F40/18
电子表格
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 40/18
申请日 : 20220112
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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