一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法
公开
摘要
本发明公开了一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，包括：S1将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；S2拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；S3对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；S4统计子像素亮度值的统计分布方差；S5若不满足预设的输出条件，则执行S6；S6对子像素亮度值进行计算，获得各子像素的补图灰阶值；S7将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像，输入待测显示屏，回到S2进行迭代。本发明能够进一步甄别出DeMura精度较低或失败的情况，进行进一步的迭代处理，以提高DeMura精度及成功率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114299062A
申请号 ：
CN202210042244.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蔡剑李堃黄鉴叶选新蔡杰羽石炳磊白海楠朱诗文
申请人 ：
苇创微电子（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
代理机构 ：
广州京诺知识产权代理有限公司
代理人 ：
于睿虬
优先权 ：
CN202210042244.0
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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